場(chǎng)發(fā)射電子掃描顯微鏡

發(fā)布人：發(fā)布時(shí)間：2018-04-24 10: 15: 12

儀器型號(hào)：JSM7500F

啟用時(shí)間：2013年4月

主要技術(shù)指標(biāo)：

1. 分辨率：1.0nm at 15kV；1.4nm at 1kV

2. 放大倍數(shù)：25-100萬倍

3. 加速電壓：0.1kV～30kV

4. 樣品室尺寸：最大200mm直徑樣品

5. 束流強(qiáng)度：10-13到2X10-9

6. 配置Oxford能譜儀，能譜儀分辨率可低至129eV（Mn Ka），并不隨探頭面積增大而改變

7. 能譜元素檢測(cè)范圍：B5～U92

應(yīng)用范圍：

1. 粉末、微粒納米樣品形態(tài)和粒度的測(cè)定

2. 金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物、細(xì)胞等材料的顯微形貌分析

3. 材料中元素定性分析、線分析、面分析

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